コンピューターに搭載される半導体デバイスが、何らかの影響を受けて誤作動する現象をいう。中でも、宇宙から降り注ぐ中性子が電子機器を通過する際に、半導体メモリーの内部に電気的な量として蓄えられた「0」と「1」のデータを反転させてしまうことが最たる原因となっている。デバイスが受ける影響を調べるには、宇宙線を模した中性子ビームを照射して、エラーの発生率を計算する「白色法」という試験法があるが、誤差が多く、業界標準に認定された施設も、アメリカのロスアラモス国立研究所の中性子照射設備だけとなる。そうした問題を受け、日立製作所は、より一般的な設備でも高精度な測定が行える「準単色法」という試験法を提案し、アメリカの業界標準に採択されたことを、2007年2月16日付で発表した。この手法は、特定のエネルギーのみをもった「単色」の中性子ビームを数種類用いた実測データと、地上における宇宙線のエネルギー分布とをもとに計算するもので、各国の複数の施設で導入できるうえ、誤差も白色法の8分の1程度まで縮小できる。